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產(chǎn)品詳細(xì)頁本原納米 BY2000原子力顯微鏡/AFM
- 產(chǎn)品介紹:本原納米 BY2000原子力顯微鏡/AFM原子級(jí)分辨率和穩(wěn)定度 大樣品腔設(shè)計(jì),適應(yīng)性強(qiáng) 主控制系統(tǒng)采用德州儀器(TI)32位高性能數(shù)字信號(hào)處理器(DSP} 高壓掃描驅(qū)動(dòng)采用APEX集成高壓運(yùn)算放大器
- 產(chǎn)品型號(hào):
- 更新時(shí)間:2024-07-18
- 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
- 產(chǎn)品品牌:
- 產(chǎn)品廠地:廣州市
- 訪問次數(shù):3138
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產(chǎn)品介紹
產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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本原納米 BY2000原子力顯微鏡/AFM
儀器介紹:
性能*
原子級(jí)分辨率和穩(wěn)定度
大樣品腔設(shè)計(jì),適應(yīng)性強(qiáng)
主控制系統(tǒng)采用德州儀器(TI)32位高性能數(shù)字信號(hào)處理器(DSP}
高壓掃描驅(qū)動(dòng)采用APEX集成高壓運(yùn)算放大器
主控制系統(tǒng)內(nèi)置實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)
系統(tǒng)采用快速以太網(wǎng)接口(Fast Ethernet)與計(jì)算機(jī)連接
本原納米 BY2000原子力顯微鏡/AFM
功能強(qiáng)大
原子力顯微鏡(AFM)
掃描隧道顯微鏡(STM)
橫向力/摩擦力顯微鏡(LFM)
I-V,I一Z、力一距離等多種曲線測(cè)量分析
在線實(shí)時(shí)三維圖像顯示,檢測(cè)過程可即時(shí)得到更直觀的形貌和豐富的細(xì)節(jié)
多通道信號(hào)同時(shí)采集和顯示,一次掃描即可同時(shí)得到樣品多種性質(zhì)與特征
具有圖像及曲線數(shù)據(jù)導(dǎo)出功能,可取得全部原始數(shù)據(jù)
探針表征和圖像重建功能(針尖形貌估算/圖像重建/用已知探針重建圖像)
操作簡便
全程全自動(dòng)進(jìn)針,無需手工粗調(diào)
只需更換探針架,即可在STM和AFM等不同類型儀器中切換
全數(shù)字控制,儀器類型、系統(tǒng)狀態(tài)等參數(shù)智能識(shí)別和控制
軟件控制樣品移動(dòng)
當(dāng)前全部工作環(huán)境參數(shù)和掃描圖像同步保存
樣品粒度和粗糙度自動(dòng)分析功能,可得到國家、國際相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的全系列參數(shù)
服務(wù)完善
業(yè)內(nèi)800免費(fèi)技術(shù)支持
業(yè)內(nèi)南北(京廣)均設(shè)有機(jī)構(gòu),為用戶提供最貼身的服務(wù)
專家級(jí)的技術(shù)支持、服務(wù)團(tuán)隊(duì)
長期以優(yōu)惠的價(jià)格向用戶提供全系列探針
技術(shù)指標(biāo)
系統(tǒng)功能
原子力顯微鏡(Atomic Farce Microscope, AFM )‘
橫向力/摩擦力顯微鏡(Lateral Force Microscope, LFM )‘
掃描隧道顯微鏡(Scanning Tunneling Microscope, 5TM )’
分辨率
掃描隧道顯微鏡(S丁M)::橫向0.1 nm,垂直0.01 nm
原子力顯微鏡}AFM):橫向0.2nm.垂直0.1 nm
參數(shù)性能
x 一y 掃乎苗范圍:~10μm
Z方向掃描范圍:~2μm
圖像分辨率:128x1 28 , 256x256, 512x512, 1024x1024
掃描角度:0~360°
掃描頻率:0.1一100Hz
主控制系統(tǒng)
中央處理器:德州儀器(TI) 32位數(shù)字信號(hào)處理器(DSP)
高速16-bit DAC
高速16-bit ADC
高壓掃描驅(qū)動(dòng):5路APEX集成高壓運(yùn)算放大器
通信接口: 1 0M/ 100M 快速以太網(wǎng)(Fast Ethernet 10/100)接口
機(jī)械性能
樣品尺寸:最大可達(dá)直徑45mm,厚度15mm
全自動(dòng)步進(jìn)電機(jī)控制進(jìn)樣系統(tǒng):行程15mm,定位精度50nm/步
軟件系統(tǒng)
基干Windows XP/2000/9X 的在線控制軟件和圖像處理軟件